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多功能超聲波測厚儀CMXDL+

型號:美國DAKOTA

產(chǎn)品時(shí)間:2023-08-16

簡(jiǎn)要描述:

多功能超聲波測厚儀CMXDL+美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶(hù)可根據需求選擇不同的功能配置,以獲得高性?xún)r(jià)比。標準版為灰度顯示屏,可選彩屏版。

詳細介紹
品牌DAKOTA/美國價(jià)格區間2萬(wàn)-5萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域化工,石油,地礦,交通,航天

一、多功能超聲波測厚儀CMXDL+的儀器特點(diǎn):

-100MHz FPGA時(shí)序電路設計
-可選彩色和灰度顯示屏
-A/B掃描
-手動(dòng)調節增益和自動(dòng)增益控制 (AGC),范圍:110dB
-自動(dòng)時(shí)間相關(guān)增益(TDG)
-多種測量模式

二、配置功能:
脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時(shí)測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿過(guò)涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式: 穿過(guò)涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度
-可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
-USB Type-C數據接口
-內置4GB SD存儲卡


三、多功能超聲波測厚儀CMXDL+的技術(shù)參數:

測量測量范圍脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過(guò)涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會(huì )變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過(guò)涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會(huì )變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
單位英制和公制
分辨率0.01mm
校準一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準方式
聲速范圍309.88~18542m/s
顯示顯示屏1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素??梢晠^62x45.7mm,EL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素
大數字方式標準厚度顯示,數字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)
A-掃描方式檢波+/-(缺陷視場(chǎng)),RF(全波視場(chǎng))。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)??v向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式基于時(shí)間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個(gè)讀數
厚度條形掃描速度10Hz,在B-掃描和大數字顯示中可見(jiàn)
功能狀態(tài)指示顯示當前激活的功能
穩定度指示表示測量值的穩定性
超聲波參數測量模式P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖可調方波脈沖發(fā)生器
接收根據選擇模式在110dB范圍內采用手動(dòng)或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調
計時(shí)單次100MHz8位超低功耗數字化儀的精確TCXO計時(shí)

脈沖重復頻率:250Hz

探頭頻率范圍:1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口,1.2米探頭線(xiàn)
可定制用于特殊應用的探頭
存儲容量內置4GB SD卡
數據結構網(wǎng)格(字母數字)和順序(自動(dòng)識別)
截屏功能位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數據輸出通過(guò)USB Type-C連接的計算機
功能設置64個(gè)用戶(hù)定義設置,用戶(hù)也可編輯出廠(chǎng)設置
探頭類(lèi)型可選內置雙路誤差校正,提高線(xiàn)性度
閘門(mén)兩個(gè)獨立閘門(mén)
報警模式上下限視聽(tīng)報警
快速掃描模式每秒250個(gè)讀數,當探頭離開(kāi)時(shí)顯示最小值
鍵盤(pán)12個(gè)觸摸鍵
其他電源標配為三節5號堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無(wú)操作五分鐘后自動(dòng)關(guān)機。USB Type-C供電。
重量312g(含電池)
尺寸131.3x63.5x31.5mm
操作溫度-30~75℃
外殼擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
包裝ABS工程塑料箱

四、雙晶探頭介紹:

雙晶探頭型號頻率探頭晶片直徑探頭防磨面直徑測量范圍說(shuō)明
PT-102-29005.0MHz6.35mm9.53mm1.0~152mm標準CT探頭(可測涂層厚度)
PT-101-29005.0MHz4.76mm6.35mm1.0~50mm小管徑CT探頭
PT-102-33007.5MHz6.35mm9.53mm0.63~152mm超薄探頭
PT-104-29005.0MHz12.7mm15.88mm1.27~508mm超厚CT探頭
PT-042-20005.0MHz6.35mm9.53mm1.0~152mm標準高溫探頭,最高340℃
PT-044-20005.0MHz12.7mm15.88mm1.27~508mm超厚高溫探頭,最高340℃
PT-212-20015.0MHz6.35mm9.53mm1.0~152mm超厚超高溫探頭,最高480℃
PT-214-20015.0MHz12.7mm15.88mm1.27~508mm超高溫探頭,最高480℃

注:測試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑

五、單晶探頭介紹:

探頭型號頻率描述說(shuō)明
PT-402-550715MHz晶片?6.35mm標準延遲塊探頭
PT-402-650720MHz晶片?6.35mm延遲塊探頭
PT-4903-28755MHz晶片?3.18mm,防磨面?6.35mm接觸式探頭
PT-4903-487510MHz晶片?3.18mm,防磨面?6.35mm接觸式探頭
PT-4023-28555MHz晶片?6.35mm,防磨面?9.53mm接觸式探頭
PT-4023-485510MHz晶片?6.35mm,防磨面?9.53mm接觸式探頭
PT-481-450710MHz延遲塊前端?1.59mm筆式探頭



 


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